Ứng dụng hiển vi trong phân tích kim tương học

Các ứng dụng hiển vi trong phân tích kim tương học:

Kim tương học đã được mô tả như một môn khoa học và nghệ thuật. Từ xa xưa, kim tương học đã được xem là ngành nghiên cứu cấu trúc vi mô của các kim loại và hợp kim sử dụng các thiết bị quang học, kính hiển vi điện tử, hoặc các thiết bị phân tích bề mặt khác. Gần đây, khi ngành khoa học vật liệu phát triển, kim tương học được hiểu rộng hơn bao gồm cả công việc kết hợp nhiềuloại vật liệu khác nhau, kể cả vật liệu điện tử, để tạo ra các vật liệu tổng hợp. Bằng cách phân tích vi cấu trúc của vật liệu, các đặt tính kỹ thuật và độ bền của mẫu có thể được hiểu rõ hơn. Vì vậy phép phân tích kim tương được sử dụng trong phát triển vật liệu, kiểm tra đầu vào, kiểm soát sản xuất và chế tạo,hoặc trong phân tích lỗi; nói cách khác, phân tích độ tin cậy của sản phẩm.

1. Phân tích kích thước hạt

Đối với các kim loại và gốm sứ, kích thước hạt là thông số quan trong việc phân tích kim tương học, vì nó có liên quan trực tiếp đến các tính chất cơ học của vật liệu. Mặc dù, kích thước hạt là một thông số 3 chiều, nhưng trong thực tế nó thường được đo theo 2 chiều từ mặt cắt ngang của vật liệu. Các công việc đo kích thước hạt thông thường bao gồm: Đếm số hạt trên một đơn vị diện tích/khối lượng, giá trị kích thước hạt hoặc đường kính trung bình. Giá trị kích thước hạt có thể được tính toán hoặc so với biểu đồ kích thước hạt chuẩn hóa. Các thuật toán phân tích hình ảnh hiện đại là rất hữu ích để xác định kích thước hạt.

2. Đường biên kép
Hình 1-1 Kích thước hạt nhôm anot hóa - Hình 1-2 Kích thước hạt Rhenium
Đường biên kép xảy ra khi 2 tinh thể phân bố đối xứng nhau. Với một số vật liệu, đường biên kép xảy ra do sự đông cứng ở nhiệt độ thấp. Để xác định chính xác kích thước hạt trong các vật liệu loại này, đường biên kép cần phải được loại bỏ ra khỏi các tính toán.